报告题目：飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术及其应用

报告时间：2015年10月26日（星期一）16:30

报告地点：理学院报告厅（理-352）

报告人：李展平 高级工程师   （清华大学分析中心）

报告内容简介：飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)能以极高的灵敏度(ppm～ppb)探测到包括H在内的所有元素及其化合物信息。它被誉为是一种普适的分析技术。本报告介绍了TOF-SIMS的基本原理、技术特点，以及它在有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等各种领域的应用。

报告人简介：

李展平博士1979-1983年就读于广州中山大学物理系，获理学学士；1983-1986年就读于清华大学，获工学硕士；2004-2005年在日本东北大学，获博士学位。1986年6月-1991年4月留校任职于清华大学无线电电子学系，任助教、助理研究员。1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作，历任俄歇电子能谱(AES)、X-光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至清华大学分析中心，任高级工程师。目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文三十多篇。

备注：本次报告纳入物理系继续教育课程。

欢迎有兴趣的师生参加！

汕头大学理学院

2015年10月22日